[custom_headline type= »left » level= »h1″ looks_like= »h3″]FUSION[/custom_headline][text_output]

Porte échantillon MET ou SEM

[/text_output]

[text_output]

Chauffage In Situ et polarisation électrique

Les produits FUSION révolutionnent les capacités d’analyse des microscopes électroniques en offrant la possibilité d’effectuer une analyse électrique In Situ à des températures allant jusqu’à 1200 ° C, tout en conservant la résolution maximale de l’instrument.

Brochure Protochips Fusion

Téléchargez les méthodes de déposition pour porte-objet chauffant FUSION

Préparation de déposition de nanofils sur Echips Fusion
Préparation de déposition de nanoparticules sur Echips Fusion
Préparation sur lamelles FIB sur Echips Fusion
[/text_output]

[image type= »none » float= »none » info= »none » info_place= »top » info_trigger= »hover » src= »242″]

[tabs][tab active= »true »]

[text_output]

Chauffage In Situ et polarisation électrique

FUSION est une plateforme polyvalente et évolutive pour la microscopie électronique quantitative.

Les produits FUSION révolutionnent les capacités d’analyse des microscopes électroniques en offrant la possibilité d’effectuer une analyse électrique In Situ à des températures allant jusqu’à 1200 ° C, tout en conservant la résolution maximale de l’instrument. Aucune autre solution commerciale ne permet l’analyse thermique dynamique et électrique en temps réel avec un système rapide, polyvalent, de haute résolution et facile à utiliser.

Une meilleure résolution implique une meilleure analyse et des résultats plus précis. Vous développez des matériaux qui vont changer le monde, Protochips développe des solutions pour vous aider à y parvenir.[/text_output]

[image type= »none » float= »none » info= »none » info_place= »top » info_trigger= »hover » src= »4912″]

[image type= »none » float= »none » info= »none » info_place= »top » info_trigger= »hover » src= »244″]

[text_output]

Chauffage stable et polarisation électrique

FUSION est une plate-forme disponible pour tous les principaux fabricants de microscopes et de systèmes MET et MEB les plus modernes. Toute la gamme FUSION utilise les mêmes consommables E-Chips permettant des études de corrélation entre instruments MET / MEB. FUSION est un outil très flexible et polyvalent, permettant l’analyse thermique ou électrique d’échantillons en remplaçant simplement les puces E-chips qui contiennent l’échantillon.

La fonctionnalité de la plate-forme est définie par le type de puce E-chip que vous choisissez plutôt que par le type de porte-échantillon. Toutes les fonctionnalités sont incluses dans l’interface du logiciel. Le chauffe-membrane de la puce thermique E-chip garantit une très grande stabilité thermique et une faible dérive.[/text_output]

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Avantages clés
  • Analyse électrique et thermique – un seul système pour une plate-forme flexible dédiée à la recherche
  • Chauffage direct du film support – contrôle très précis de la température de l’échantillon
  • Membrane céramique robuste – inerte, ultra-haute stabilité et faible dérive, large gamme de température depuis l’ambiante jusque 1200 ° C en 1 ms
  • Dispositifs de supports d’échantillons semi-conducteurs jetables – permet d’éliminer la contamination croisée et assure la compatibilité avec pratiquement n’importe quel instrument MET / MEB / STEM

[/text_output]

[/tab][tab]

[image type= »none » float= »none » info= »none » info_place= »top » info_trigger= »hover » src= »2633″ link= »true »]

[image type= »none » float= »none » info= »none » info_place= »top » info_trigger= »hover » src= »2632″ link= »true »]

[x_video_embed type= »16:9″][/x_video_embed][text_output]FUSION is an advanced system to heat and electrically bias samples within an electron microscope.The system is optimized to produce heating up to 1200 °C or electrical biasing without degrading the resolution of the instrument. With FUSION, atomic resolution of heated samples is now possible. This video outlines the Aduro technology as well as several scientific applications.[/text_output][x_video_embed type= »16:9″][/x_video_embed][text_output]This real-time video shows rapid heating and quenching of micron-sized copper-silver particles in the SEM. The video demonstrates how quickly the Protochips Aduro™ can heat and quench samples, on the order of milliseconds. Take note of the temperature display on the upper left corner of the video.[/text_output][x_video_embed type= »16:9″][/x_video_embed][text_output]Using the Protochips FUSION System in the SEM, we show Schott glass melting at ~620 °C. Its known melting point is 622 °C. This demonstrates the accuracy of the Aduro heating system.[/text_output][x_video_embed type= »16:9″][/x_video_embed][text_output]This video shows gold nanoparticles at 600 °C to demonstrate the stability of the Protochips FUSION at high temperatures, as well as its ability to resolve dynamic events with sub-Angstrom resolution. The initial video was taken at 1 frame per second, and then sped up to 5 frames per second using video editing software later. The video was taken in the TEAM 0.5 microscope (FEI Titan, 300 kV, Cs aberration correction, monochromator) at Berkeley National Laboratory, Berkeley, California.[/text_output]

[x_video_embed type= »16:9″][/x_video_embed][text_output]A step-by-step demonstration of a thermal experiment and an electrical bias study using the Protochips Aduro system.[/text_output][x_video_embed type= »16:9″][/x_video_embed][text_output]The Aduro™ heating and electrical biasing system is compatible with environmental electron microscopes. This real time video shows ceria (CeO2) in a reducing atmosphere of hydrogen at 1.2 Torr at 750 °C. The lattice and surface reactions can be easily seen.[/text_output][x_video_embed type= »16:9″][/x_video_embed][text_output]This real-time video shows two gold nanoparticles that are on the surface of larger iron oxide particles at 900° C. At this temperature the gold is very mobile, and the two particles coalesce into one larger nanoparticle. This demonstrates the stability of the Protochips FUSION system at high temperatures. This video was taken on a JEOL ARM200F (200 kV, Cs aberration correction) at JEOL in Akishima, Japan. [/text_output]

[/tab][tab]

[text_output]

Tableau de specifications

[/text_output]

[/tab][tab]

[/tab][/tabs]

[lightbox selector= ».x-img-link » opacity= »0.875″ prev_scale= »0.75″ prev_opacity= »0.75″ next_scale= »0.75″ next_opacity= »0.75″ orientation= »horizontal »]

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