FAST-EM

Microscope électronique multifaisceaux automatisé ultra-rapide

Le FAST-EM est un microscope électronique type MEB STEM ultra rapide avec plusieurs faisceaux, créé pour rendre plus simple et efficace des projets de microscopie électronique complexes. Grâce à l’acquisition automatique, ce système haut-débit est un outil idéal pour l’imagerie large champ ou pour l’analyse quantitative avec plusieurs échantillons. Fournissant des aperçus précis tout en proposant un flux de travail simple, ce système permets à l’utilisateur de se concentrer sur l’analyse de données, plutôt que sur la manipulation du microscope.

Le FAST-EM peut être utilisé pour explorer l’architecture d’une cellule, l’interaction d’un circuit neuronal, et l’analyse de spécimens biologiques. Il est un outil extrêmement bénéfique pour réaliser de l’imagerie 3D de large volume et de l’imagerie 2D à grande échelle. Il permets également un gain de temps significatif.

Avantages

Image plus rapide
Vitesse d’acquisition élevée en utilisant 64 faisceaux électroniques et des temps d’acquisitions courts.

Concentré sur l’analyse de données
Laissez le système acquérir automatiquement un ensemble de données complexes, sans surveillance constante.

Obtenez un flux de travail haut-débit
Minimisez les pertes de temps pendant l’imagerie grâce à une automatisation robuste.

Obtenez le détail et une vue d’ensemble
Collectez des détails à l’échelle nanométrique tout en conservant un contexte plus large de l’échantillon.

Opérations en un coup d’œil

Image avec 64 faisceaux

Pour atteindre l’imagerie à haut-débit le FAST-EM utilise 64 faisceaux d’électrons. L’échantillon est balayé en parallèle par ces faisceaux, et les signaux sont enregistrés dans un tableau en utilisant un SiPM (galette Silicium Photo Multiplicatrice) hyper sensible et rapide. Cette approche permet une vitesse d’acquisition nettement plus élevée.

Utilisations de temps d’acquisition plus court

Le système FAST-EM utilise un microscope électronique à balayage en mode transmission (STEM) pour la formation d’images. Ceci est réalisé en plaçant l’échantillon directement sur un écran scintillateur. Les scintillateurs, produisent de la cathodoluminescence localisée ensuite imagée par microscopie optique. La lumière résultante est ensuite détectée sur une galette Silicium Photo Multiplicatrice (SiPM) et traitée pour former l’image finale en différents niveau de gris.

Logiciel d’automatisation

Les expérimentations avec le FAST-EM sont crées et gérées facilement, grâce à des automatisations robustes et à un logiciel convivial.
La fiabilité de l’ensemble, microscope et logiciel, permet à l’opérateur de laisser le système en fonctionnement sans surveillance permanente.

Chargement de plusieurs échantillons à la fois

En microscopie électronique, le chargement d’échantillons est l’une des opérations la plus chronophage dans un projet, nécessitant la présence constante de l’opérateur. Le FAST-EM permet de charger jusqu’à 9 substrats en simultanément, où chaque substrat peut contenir des dizaines, voir des centaines de sections de coupe. Cela peut représenter jusqu’à 72 heures d’imagerie continue.

Overcoming challenges in large-scale imaging projects with FAST-EM

Webinar Fast Imaging: High throughput imaging with the FAST EM system

Spécifications du système

*Autres tailles disponibles

*Nécessite un support de grilles MET