Octane Silicon Drift Detector (SDD) Series

Les détecteurs EDAX EDS-SDD délivrent une haute qualité analytique à très haut taux de comptage.
Les utilisateurs de microanalyse bénéficient à la fois de la haute vitesse d’acquisition et de la précision des données EDS collectées pour optimiser les résultats analytiques des matériaux observés.
• Le SDD Octane produit d’excellents résultats à très basse et à très haute énergie avec une surface active de 30 / 70mm²
• Résolution du détecteur à 125eV sur le Mn Kalpha en accord avec la norme ISO 15632 : 2012 (sur le Carbone (46eV), sur l’Azote (47eV), sur l’Oxygène (49eV), sur le Fluor (53eV)
• Permet 850 000 cps en sortie ce qui est 3x meilleur qu’un détecteur EDS-SDD typique
• Fenêtre Si3N4 (céramique)
o Si3N4 est une céramique avec de meilleures propriétés mécaniques que les fenêtres polymère traditionnelles type Moxtek
o Epaisseur < 100nm (typiquement 50nm) mais aussi robuste qu’une fenêtre Be
o Des tests ont été effectués à des pressions de 2 bars, 5Hz 17 millions de cycles sans aucun dommage, permet l’utilisation d’un plasma cleaner
o La fenêtre résiste à des températures de 650°C
o Amélioration considérable de la sensibilité en basse énergie pour la détection des éléments légers et pour la microanalyse en basse tension (35% d’amélioration par rapport à une fenêtre polymère)

EDS_Systems_Overview_PB_LR (2)

Element EDS System

Le système ELEMENT EDS offre une capacité analytique puissante dans un boîtier compact, ce qui maximise les performances et la flexibilité, tout en offrant un fonctionnement simplifié pour garantir des résultats rapides et une facilité d’utilisation. Il est axé sur le marché industriel, où les problèmes spécifiques à l’application doivent être résolus rapidement et avec précision. La combinaison d’un détecteur SDD avec le logiciel convivial APEX ™ fournit une solution complète de microanalyse EDS pour tous les niveaux d’analyse et les applications industrielles à haut débit.

Element Silicon Drift Detectors :

Les SDD sont conçus avec une fenêtre de nitrure de silicium (Si3N4) pour optimiser la transmission de rayons X à faible énergie pour l’analyse des éléments légers. Les détecteurs offrent une excellente résolution et leur électronique à faible bruit offrent des performances exceptionnelles. Le faible encombrement des SDD ELEMENT offre une flexibilité pour assurer une géométrie idéale et des conditions d’acquisition. Les détecteurs contiennent une surface active de 30 mm2 et sont disponibles en 2 modèles différents:
Fixe
Rétractable

APEX™ Software Platform :

La plate-forme logicielle intuitive et conviviale APEX ™ 64 bits pour le système Element EDS a été développée en mettant l’accent sur les besoins industriels, ce qui garantit des résultats haut de gamme combinés à la facilité d’utilisation. Le logiciel APEX ™ simplifie l’analyse de composition et offre un traitement de données de haute qualité avec des résultats précis et fiables. L’interface utilisateur peut être personnalisée, offrant un large choix de mises en page, de couleurs et de formats de rapports de données.

Element_EDS_System_PB_HR

Octane Elect EDS System

Les SDD EDAX Octane Elect 30/ 70 mm² offrent une performance supérieure pour la détection des d’éléments légers avec la meilleure efficacité d’acquisition, capable d’accepter des taux de comptage extrêmement élevés avec une excellente résolution (126 eV à 200 000 cps).
L’Octane Elect est une évolution technologique en EDS avec les dernières avancées de la technologie SDD (Silicon Drift Detector) et de l’électronique haute vitesse. Conçu pour les utilisateurs qui exigent des performances et des fonctionnalités plus élevées que les options disponibles dans les systèmes entrée de gamme, le système Octane Elect EDS offre une excellente résolution et un taux de comptage élevé pour la détection d’élément léger et à basse tension (Low kV).

Avantages :

Les SDD Octane Elect intègrent une fenêtre de nitrure de silicium (Si3N4), une électronique haute vitesse et une rétractation manuelle. Ils peuvent être combinés avec l’une des caméras EBSD du système d’analyse Pegasus EDS-EBSD, offrant une intégration parfaite pour la composition chimique et l’analyse de la structure cristalline dans une interface facile à utiliser. Pour plus d’informations, visitez la page Pegasus EDS-EBSD Analysis System.
Les SDD d’octane sont disponibles en 2 modèles:
Octane Elect Plus – surface active 30 mm2
Octane Elect Super – surface active 70 mm2

Octane_Elect_EDS_System_PB_HR

Octane Elite EDS System

Les SDD Octane Elite intègrent une fenêtre de nitrure de silicium (Si3N4), une électronique haute vitesse et une glissière motorisée. Ils peuvent être combinés avec l’une des caméras EBSD et / ou des spectromètres de sélection de longueur d’onde (WDS) d’EDAX dans le cadre du système d’analyse Pegasus EDS-EBSD ou du système d’analyse Trident EDS-EBSD-WDS pour une solution complète de caractérisation de matériaux . Pour plus d’informations, visitez les pages du système d’analyse Pegasus et Trident Analysis System.
Les SDD Octane Elite sont disponibles en 2 modèles:
Octane Elite Plus – surface active 30 mm2
Octane Elite Super – surface active 70 mm2.
Résolution du détecteur à 125eV sur le Mn Kalpha en accord avec la norme ISO 15632 : 2012 (sur le Carbone (46eV), sur l’Azote (47eV), sur l’Oxygène (49eV), sur le Fluor (53eV).
o Meilleure performance pour les éléments légers.
o Meilleure performance pour l’analyse à basse tension
o Très grande fiabilité et robustesse de la fenêtre en céramique
o Utilisation de la technologie CUBE
o Résolution en énergie stable à 200 000 cps

Octane_Elite_EDS_System_PB_HR


Conclusion


Performance du détecteur EDS-SDD (ELECT / ELITE)
• Fenêtre céramique de 70 mm² en nitrure de silicium qui permet une plus grande transmission des rayons X à faible énergie avec une plus grande robustesse
• Résolution inférieure à 125 eV sur le Mn Kalpha et 46 eV sur le Carbone à 100 kcps
• Cristal SDD sous vide pour augmenter la détection des rayons X (Vacuum Encapsulation)
• Support de grille hexagonal de la fenêtre avec moins de blocage par rapport à la technologie à grille horizontale / verticale
• Amptek CUBE Electronics (Préamplificateur CMOS technologie à bas bruit)
• Rapport de hauteur de crête 1:1 entre la raie L et la raie K de Al à 2.5 kV sur plot d’Aluminium
• Insertion et rétractation motorisées
Notes :
Une configuration à double détecteur est possible pour augmenter les taux de comptage. Lorsque ces détecteurs sont montés sur des côtés différents de la chambre de SEM, les échantillons rugueux comme les surfaces de rupture peuvent être cartographiés avec succès sans ombrage. Les cartes collectées à chaque détecteur peuvent être fusionnées avec la fonction « maximale du signal » et une normalisation ZAF pour produire une seule carte X-Ray qui montre la répartition des éléments sur toute la surface corrigée pour la topographie.
Possibilité de combiner les 2 détecteurs ou de les séparer c’est-à-dire de visualiser le spectre, la cartographie, le profil de ligne provenant d’un seul détecteur ou celui provenant des 2 détecteurs combinés
Stabilité de la résolution à haut taux de comptage
• Permet le traitement jusqu’à 2Mcps cps par seconde (850 000 cps /s traités et mémorisés avec une résolution spectrale inférieure à 135eV et un process time de 0.12µs)
Electronique à haute efficacité
• Nouveau Digital Pulse Processeur intégré avec 7 Process Time (120ns/ 240ns/ 480ns/ 960ns/ 1.92µs/ 3.84µs/ 7.68µs) , 5 niveaux de discriminateur pour la correction de pics d’empilement, choix de 5 ou 10eV/canal
• Produit l’acquisition de données la plus rapide en minimisant le temps mort à haut taux de comptage
• Le temps de process le plus rapide est de 120 ns
• Affichage en temps réel des Coups à l’entrée, à la sortie mémorisés, du Process Time et de la résolution du détecteur
Informatique
• PC de type Core i7 multithreading (execute plusieurs taches simultanément)
• Windows 7 – 64 bits