La gamme des Caméras EBSD HIKARI

La gamme de Caméra EBSD HIKARI est la toute dernière génération de caméras en diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD) offrant une performance exceptionnelle pour la gamme complète des applications de l’EBSD. Les utilisateurs n’ont plus à choisir entre la vitesse et la sensibilité car la série des caméras HIKARI offre ces 2 critères simultanément.

La série HIKARI inclut maintenant trois modèles :

Hikari Pro – jusqu’à 600 points indexés par seconde

Hikari Plus – jusqu’à 1000 points indexés par seconde

Hikari Super – jusqu’à 1550 points indexés par seconde

Les augmentations de vitesse d’indexation entre chaque modèle sont disponibles à toutes les résolutions de l’appareil, ce qui permet d’atteindre des vitesses réelles d’acquisition à la fois sur des échantillons de routine ou des échantillons plus difficiles.

Fournir des résultats sans compromis, la série de caméras EBSD HIKARI allie la meilleure vitesse d’indexation du marché de l’EBSD, sensibilité et précision. Associées avec le logiciel du système d’analyse EBSD TEAM ™ d’EDAX, les caméras HIKARI offrent les taux d’indexation les plus élevés sur le marché, garantissant à l’utilisateur la meilleure qualité de donnée possible.

Offrir une grande gamme de distance de travail de 5 mm à 35 mm sans aucun mouvement de la caméra (beaucoup mieux pour l’intégrité de la caméra à long terme et du vide microscope).
• Possibilité de réaliser des analyses en mode t-EBSD (EBSD en mode transmis) avec fourniture d’un porte objet échantillon dédié et spécialement conçu pour la caméra TSL-EDAX.
• La caméra est fournie avec un filtre infra rouge pour être compatible avec une platine de tests mécaniques et thermiques in situ.
• Modes Binning: 1×1, 2×2, 4×4, 5×5, 6×6, 8×8, 10×10, 16×16

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Les utilisations typiques :

  • Analyse à haute vitesse pour le développement de processus et les applications de contrôle de qualité
  • Haute sensibilité d’indexation avec des courants de sonde faible et des tensions d’accélérations basses lorsque l’amélioration de la résolution spatiale est nécessaire

Carte d’orientation acquise avec un courant de faisceau de 100 pA sur un échantillon de superalliage Inconel 600

Taux d’acquisition de données jusqu’à 1550 points indexés par seconde

Les cartes peuvent être collectées en quelques minutes pour un MEB en utilisation normale.

Sensibilité maximum de la caméra EBSD

Performance de haute qualité sur toute la gamme de conditions optoélectroniques du MEB notamment :

  • Des courants de faisceau aussi bas que 100 pA
  • Des tensions d’accélération aussi faibles que 5 kV

Carte d’orientation acquise avec un courant de faisceau de 100 pA sur un échantillon de superalliage Inconel 600

Carte de désorientation KAM (Kernel Average Misorientation) sur un acier déformé montrant une plus grande résolution de la structure de déformation avec une précision d’orientation de 0,05°

Résolution angulaire de moins de 0.05°

Permet une caractérisation détaillée de la déformation plastique de la microstructure, de l’évolution des sous-grains et des mécanismes de déformation pour une meilleure compréhension des relations entre la transformation et les propriétés de la microstructure

Résolution spatiale

Breveté par EDAX, l’Indexe de Confiance (CI) détermine non seulement un taux d’indexation, mais un taux de réussite de l’indexation afin de valider les données d’orientation de l’utilisateur.La résolution spatiale dépend fortement de l’échantillon, sur des échantillons adéquats une résolution spatiale de 10 nm est possible (FEG), voire moins.A droite, acquisition réalisée avec un pas de 5 nm en mode classique. Les zones noires sont les zones non-indexées. Courant 2 nA et tension d’accélération des électrons 15 kV, et vitesse d’acquisition 600 points indexés par sec. L’échantillon n’était pas plan et les zones d’ombre sont mises en valeur par les parties noires.

Le détecteur FSD (Forward Scatter Detector) intégré pour visualiser la microstructure de l’échantillon avant d’effectuer l’analyse EBSD

Fournit une image en contraste d’orientation, de composition et de topographie pour un aperçu des échantillons préparés pour l’EBSD.

Le détecteur FSD est monté dans la protection anti collision de la caméra.
• Ce détecteur permet d’obtenir une image d’orientation, de topographie, de composition dépendamment de la WD, la tension d’accélération, du courant de faisceau, de l’insertion de la caméra.
• Les images FSD ci-dessous sont produites à partir d’un minerai de sulfure de polyphasé, pour lequel la distance d’insertion de la caméra a été modifiée.
• Notez les différentes images qui sont visibles à différentes insertions. Lorsque la caméra est entièrement insérée, le contraste topographique est plus dominant, rétractée à 12 mm, le contraste d’orientation devient plus apparent.
• Avec la poursuite de la rétraction, le contraste de composition apparaît, approchant le niveau de détail anciennement seulement réalisable avec un détecteur de rétrodiffusion.

Compatible avec le système d’imagerie en live PRIAS (Pattern Region of Interest Analysis System)

  • Les caméras HIKARI à haute vitesse peuvent être utilisées comme détecteurs d’imagerie en mode Live PRIAS
  • Fournit 25 images de la région prédéfinie d’intérêt (ROI) de la caméra EBSD, qui peuvent être traitées arithmétiquement pour améliorer, supprimer ou isoler les contrastes de l’image
  • L’Imagerie PRIAS fournit des images synchrones de contraste d’orientation, de phase et de topographie des échantillons EBSD

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Neighbor Pattern Averaging & Reindexing (NPAR™)

NPAR ™ est une approche innovante pour mesurer l’orientation cristallographique à partir des clichés EBSD. Avec NPAR ™, le cliché EBSD acquis est calculé en moyenne avec tous les clichés EBSD environnants les plus proches de la grille cartographique (6 voisins), puis réindexés. Cette approche réduit le bruit de l’image similaire à la moyenne des images, mais sans perte de temps. Cela améliore le ratio signal sur bruit du cliché et permet à la caméra EBSD d’être utilisée avec un gain plus élevé que ceux traditionnellement utilisés sans sacrifier la performance de l’indexation

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Atom Probe Assist

Atom Probe Assist est un outil conçu pour aider les utilisateurs de la tomographie par sonde atomique à préparer des échantillons pour une analyse plus rapide et plus efficace que précédemment. Atom Probe Assist réduit le temps total nécessaire pour obtenir des données de sonde d’atome de haute qualité et accélère les progrès dans la compréhension des questions dans la recherche de matériaux, comme la ségrégation des limites des grains.

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Team EBSD

La suite logicielle TEAM EBSD fournit une caractérisation EBSD totalement intégrée avec la caractérisation chimique de TEAM EDS (PEGASUS)
L’interface utilisateur est intuitive et facile à utiliser et s’appuie sur des fonctionnalités et des algorithmes permettant de garantir la qualité des données et la facilité de mise en œuvre des paramètres d’acquisition. La Cartographie EBSD dynamique permet l’analyse de données en temps réel.
Les points forts du logiciel TEAM EBSD comprennent : l’optimisation de la caméra, l’acquisition du fond continu, l’analyse ponctuelle, l’indexation intelligente, la cartographie dynamique, le temps machine, la correction de dérive et l’analyse multi champs.
Il existe à la fois l’interface TEAM EBSD et en plus du logiciel d’acquisition simultanée EDS-EBSD, un logiciel supplémentaire dédié à la seule acquisition et indexation des clichés EBSD TSL OIM DC (Data Collection).

À partir des cartographies construites, des informations complémentaires sont accessibles, comme la distribution des joints de grains, l’analyse de la taille de grains, les gradients d’orientations inter et intra granulaires… De ce fait, les analyses de structures de déformation, de recristallisation, de transformation de phases, de croissance de grains s’en trouvent largement facilitées.

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Conclusion


Les gammes de caméras HIKARI sont parfaitement adaptées aux applications de l’EBSD. En combinant vitesse, sensibilité et précision, elles offrent des performances sans compromis. Les caméras sont entièrement compatibles avec les logiciels EDAX TEAM ™ Trident, Pegasus ainsi que tout package d’analyse EBSD, aidant les utilisateurs à résoudre leurs problématiques d’analyse des matériaux rapidement, facilement et avec précision.